1. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
پدیدآورنده : \ Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design. ,Random access memory.,نیمه هادی‌های اکسید فلزی مکمل -- طراحی ,حافظه دسترسی تصادفی
رده :
E-Book
,
2. CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies
پدیدآورنده : / Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementar--Design,Random access memory,Nanoelectronics
رده :
E-BOOK
3. Defect-Oriented Testing For Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
پدیدآورنده : / by Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : CMOS VLSI Circuits
رده :
TK7874
.
D47S2
2010
4. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
پدیدآورنده : by Manoj Sachdev.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Computer engineering.,Engineering design.,Engineering.
5. Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits
پدیدآورنده : Sachdev, Manoj.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
6. #2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing
پدیدآورنده : #sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee , edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Semiconductors- Defects- Congresses
رده :
#
QC
،#.
D4
,
I54
،#
2000
7. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
پدیدآورنده : sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
8. THERMAL AND POWER MANAGEMENT OF INTEGRATED CIRCULTS
پدیدآورنده : /Arman vassighi and Manoj sachdev
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (تهران)
موضوع :
9. Thermal and power management of integrated circuits
پدیدآورنده : / Arman Vassighi and Manoj Sachdev
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و موزه دانشگاه شهید بهشتی (تهران)
موضوع : Integrated circuits,INTEGRATED CIRCUITS,THERMAL ENERGY,MANAGEMENT,CMOS,-- Management
رده :
621
.
3815
V339T
2006
